Sind Ihre Proben luftempfindlich?
Suchen Sie nach einer Möglichkeit, AFM- und REM-Daten gleichzeitig zu erhalten?
Dann müssen Sie Ihre Proben zur gleichen Zeit, am gleichen Ort und unter den gleichen Bedingungen analysieren!

Wir stellen Ihnen das LiteScope 2.5 von NenoVision vor, ein bahnbrechendes Rasterkraftmikroskop (AFM). Das LiteScope ist nahtlos in das Rasterelektronenmikroskop (REM) integriert und eröffnet neue Möglichkeiten für die korrelative in-situ Mikroskopie.

Die jüngste Generation des LiteScope basiert auf der brandneuen, hochmodernen NenoBox-Steuereinheit, die die Leistungsfähigkeit und die Möglichkeiten des AFM-in-SEM auf ein neues Niveau hebt. Das Herzstück der neuen Steuereinheit ist das offene Hardwarekonzept des GwyScope DSP Controllers. Mehrere Schlüsselfunktionen wurden implementiert, die den Markt revolutionieren, da das AFM-in-REM vielseitig eingesetzt werden kann.

Was ist neu?