NEUESTE NACHRICHTEN ÜBER PRODUKTE UND FALLSTUDIEN
Aktuelle Artikel
Hier erhalten Sie einen tieferen Einblick in unsere Techniken und Anwendungen. Wir bereiten Fallstudien, Kundenberichte und Präsentationen für Sie auf und informieren Sie über Neuigkeiten und Veranstaltungen. Bleiben Sie auf dem Laufenden!
Treffen Sie uns hier – SMT35 Hamburg
18. - 22. September 2023 –
Treffen Sie uns auf der SMT35 Hamburg, Germany
Neue Partnerschaft mit Delong Instruments
Wir freuen uns, unsere neue Partnerschaft mit Delong Instruments bekannt zu geben. Wir haben unser Portfolio um Transmissionselektronenmikroskope erweitert, um Ihnen noch mehr Möglichkeiten zur Lösung Ihrer Herausforderungen zu bieten. Was ist der Mehrwert für Sie? Lesen Sie mehr...
Nachweis von Cadmium in Sinapis Alba mit LIBS
Sie wollen wissen, in welchem Ausmaß Giftstoffe von Pflanzen aufgenommen werden?
Wir zeigen Ihnen den Nachweis und die Verteilung von Cadmium in Sinapis Alba (weiße Senfpflanze) mittels LIBS.
Lesen Sie diese interessante Story...
NanoX-Pert Seminar 17. Oktober 2023
17. Oktober 2023 - 9 bis 16:30 Uhr
Schwerpunkt: Oberflächenanalytik zur Fehleranalyse
LiteScope 2.5 ab sofort verfügbar
Hier ist das neue AFM LiteScope 2.5 von NenoVision, mit neuer Elektronik, überarbeiteter Software (z.B. mit AI-basiertem Bildverarbeitungsalgorithmus), zusätzlichen sekundären elektrischen Modi...
Meet us here – MC Darmstadt 2023
February 26st - March 2nd, 2023 –
Meet us at MC Darmstadt
Meet us here – iCT 2023
February 27st - March 2nd, 2023 –
Meet us at iCT 2023
nanoX-Change Webinar
March 15th, 2023 - 10 am to 10:45 am
Want to learn how AFM-in-SEM technology can solve your analytical challenges, especially in the semiconductor industry? Then our next webinar is just right for you.
Open Lab at Physical Electronics GmbH
March 22nd, 2023 – 8 am to 5 pm
Great opportunity to mingle, plus our special feature: You can bring a sample of yours and we will do an analysis for you!
NanoX-Pert Seminar April 25th, 2023
April 25th, 2023 - 9 am to 5 pm
Focus: Chemistry at Surfaces and Interfaces
