NanoX-Pert Seminar  – 17. Oktober 2023

Im Fokus: Oberflächenanalytik zur Fehleranalyse mit TOF-SIMS, XPS und Auger

Wir laden Sie herzlich zu unserem nächsten NanoX-Pert Seminar ein.

Dienstag, 17.10.2023 von 9:00 bis 16:30 Uhr.

Das Seminar findet wie immer in unserem Labor in Feldkirchen statt und ist kostenlos.

Unsere Experten für Oberflächenanalytik freuen sich darauf, Ihnen unsere drei Methoden (XPS, AES und TOF-SIMS) vorzustellen.

Als Schwerpunktthema haben wir diesmal „Oberflächenanalytik zur Fehleranalyse“ gewählt.

Wieder ist es uns gelungen, einen professionellen Gastredner aus dem Industrieumfeld zu gewinnen. Freuen Sie sich auf Herrn Dr. Lothar Höllt von der Firma KETEK GmbH. Er wird Sie mit dem Thema „Oberflächenanalysen für Silizium-Drift-Detektoren“ in seinen Bann ziehen.

Darüber hinaus wird Ihnen unser Kollege Jens Niemann (Verrieb PHI GmbH) das neueste XPS-Instrument unseres Partners PHI USA vorstellen. Die PHI Genesis kombiniert XPS und HAXPES in einer automatisierten Multitechnologie-Plattform. Seien Sie gespannt.

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Neben den interessanten Inhalten des Tages bieten wir auch einen Analysegutschein für Neukunden an, die unsere Methoden an Ihrer Probe ausprobieren möchten. Nichts ist lehrreicher als die eigene Erfahrung!

Nutzen Sie die Gelegenheit, die Geräte live zu erleben und sich mit unseren Experten auszutauschen.

Nach Ihrer Anmeldung erhalten Sie eine Woche vor Beginn des Seminars die Details zu Anfahrt und Ablauf der Veranstaltung.