PHI nanoTOF 3
TOF-SIMS und patentiertes Parallel-Imaging MS/MS
Das nanoTOF 3 ist die neueste TOF-SIMS Anlage von PHI. Das patentierte parallele Imaging MS/MS und der TRIFT Analyzer, zwei Hauptmerkmale, ermöglichen TOF-SIMS Messungen auf stark topografischen Oberflächen, eine hohe Massengenauigkeit, eine hohe Massenauflösung und eine eindeutige Peak-Identifizierung mit parallelem Tandem-MS-Imaging.
Für die Anlage stehen zahlreiche Optionen zur Verfügung. Sie kann dadurch für die verschiedensten Anwendungen auf organischen und anorganischen Materialen optimiert werden.
Über TOF-SIMS:
Die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) liefert elementare, chemische Zustands- und molekulare Informationen von Oberflächen fester Materialien. Die durchschnittliche Analysetiefe bei einer TOF-SIMS-Messung beträgt etwa 1 nm.
Weitere Systemvorteile
- Neue Zweistrahl-Ladungsneutralisierung für die vollautomatische Analyse von isolierenden Proben
- Neuer Bi-Cluster-Emitter mit kleinerem Strahldurchmesser für verbesserte HR2-Bildgebung mit hohem Durchsatz
- Zuverlässige chemische und molekulare Analyse von gekrümmten rauen und geladenen Proben
- Tandem-Massenspektrometer für schnelle Bildgebung und genaue Peak-Identifizierung
- Neuer automatisierter Probentisch und In-Vakuum-Parken für hohen Probendurchsatz
- Lösungen für die In-situ-Charakterisierung fortschrittlicher Materialien
Das Herzstück des PHI nanoTOF 3 ist der Trift-Analysator
Diese Konstruktion bietet eine einzigartige 3D-Analysefunktion, bei der ein fokussierter Ionenstrahlschnitt mit hoher Massenauflösung und hochauflösender Bildgebung (HR2) kombiniert wird, um Ihnen eine chemische 3D-Charakterisierung zu ermöglichen.
Anwendungsbereiche
Zuverlässige chemische Analyse aller Proben
Für die chemische Abbildung von flachen und rauen Proben bietet das Massenspektrometer eine hohe Sammeleffizienz, eine hohe Massenauflösung, eine hohe Massengenauigkeit und ein hohes Signal-zu-Hintergrund-Verhältnis – alles gleichzeitig. Dank des TOF-TOF-Modus des Spektrometers ist die genaue Element- und Molekülabbildung von stark topografischen, strukturierten und FIB-geschnittenen Proben einzigartig.
Parallele Bildgebung mit Identifizierung
TOF-SIMS- und Tandem-MS-Daten werden gleichzeitig, parallel und ohne Verwerfen von Ionen aus demselben Analysevolumen erfasst.
Das MS2-Produktionsspektrum kann zur Identifizierung der Vorläuferionenzusammensetzung direkt aus dem Produktionsspektrum oder durch Vergleich mit Massenspektraldatenbanken verwendet werden. Das parallel abbildende MS/MS-Spektrometer verbessert auch die Nachweisempfindlichkeit für Substanzen, bei denen der interessierende Peak Masseninterferenzen aufweist.
Gleichzeitige räumliche und spektrale Auflösung der Chemie
Sie müssen sich nicht mehr zwischen optimaler Bildgebung und Spektroskopie entscheiden; der von PHI entwickelte HR2-Betriebsmodus bietet Ihnen beides in einer einzigen schnellen Analyse.
